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    產(chǎn)品名稱(chēng): 郵標(biāo)孔封裝的模組檢測(cè)類(lèi)

    產(chǎn)品介紹: 隨著電子技術(shù)的突飛猛進(jìn),大多數(shù)產(chǎn)品功能越來(lái)越強(qiáng),體積也日益減小,為節(jié)約空間,方便開(kāi)發(fā),越來(lái)越多的電路模塊化設(shè)計(jì)。所以仿郵票形式的半孔封裝也越來(lái)越多,隨之帶來(lái)的測(cè)試也成難題了。
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    隨著電子技術(shù)的突飛猛進(jìn),大多數(shù)產(chǎn)品功能越來(lái)越強(qiáng),體積也日益減小,為節(jié)約空間,方便開(kāi)發(fā),越來(lái)越多的電路模塊化設(shè)計(jì)。所以仿郵票形式的半孔封裝也越來(lái)越多,隨之帶來(lái)的測(cè)試也成難題了。

    郵票孔焊由兩個(gè)部組成,半孔與周邊的焊盤(pán)。當(dāng)焊盤(pán)設(shè)計(jì)變大時(shí),方便測(cè)試,但是模塊與底板之間入錫太多,容易連錫短路。而焊盤(pán)面積太小時(shí),焊錫不夠牢固,且常規(guī)結(jié)構(gòu)無(wú)法下測(cè)試針。

    出于兩者的矛盾,針對(duì)不同形式的模塊可以做不同的設(shè)計(jì),本文僅限體積較大,元件密集度較高的核心板提出建議。

    可以將半孔設(shè)計(jì)成橢圓形,PCB加工外形時(shí),留出較多的半孔深度,而焊盤(pán)面積設(shè)計(jì)較小,這樣的形狀在焊接到主板上時(shí),核心板底部與主板之間上錫較小,半孔較深時(shí),大多數(shù)錫會(huì)聚集在半孔內(nèi),增加了錫量,同時(shí)也避免了容易連錫短路的現(xiàn)象。

    而測(cè)試方面可以采用我司設(shè)計(jì)的四側(cè)面推針結(jié)構(gòu),完全可以實(shí)現(xiàn)將所有的半孔線路引出,甚至正反面增加測(cè)試針引出燒錄或其它電壓點(diǎn),方便檢測(cè)。

    由于核心板的引腳大多分為電源類(lèi),通訊類(lèi),IO類(lèi),而測(cè)試的目的主要是檢測(cè)所有元件的所有引腳是否焊接合格。所以我們可以設(shè)計(jì)一塊專(zhuān)用于檢測(cè)的主板,配上電源檢測(cè)功能,根據(jù)核心板的通訊方式配上各種通訊的轉(zhuǎn)換電路,普通IO則采用掃描的方式檢測(cè)電平。從而即簡(jiǎn)化了測(cè)試電路,又完成了全面性的簡(jiǎn)單,實(shí)現(xiàn)快速高效的檢測(cè)。

    這種類(lèi)型的產(chǎn)品相較于其它非系統(tǒng)性功能的產(chǎn)品所需檢測(cè)電路當(dāng)然復(fù)雜些,因此用于檢測(cè)的電路不能排除使用過(guò)程中出現(xiàn)異常。同時(shí)為了減少接線配線的工作量,所以建議設(shè)計(jì)轉(zhuǎn)接板,完成測(cè)試針與測(cè)試底板之間的連接。在測(cè)試底板出現(xiàn)問(wèn)題時(shí),也能快速更換,完成修復(fù)。不因小故障而影響產(chǎn)線的生產(chǎn)進(jìn)度。


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